[发明专利]半导体存储器器件及其驱动方法无效
申请号: | 200610103163.8 | 申请日: | 2006-07-06 |
公开(公告)号: | CN1893095A | 公开(公告)日: | 2007-01-10 |
发明(设计)人: | 大泽隆 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李春晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体存储器器件及其驱动方法。半导体存储器器件包括:半导体衬底,其包括第一绝缘膜上的半导体层;存储器单元,其包括在半导体层中形成的源极和漏极以及设在源极和漏极之间的浮体区,该存储器单元根据在浮体区中累积的电荷量来存储数据;设在存储器单元的浮体区上的第二绝缘膜;设在第二绝缘膜上的字线;与所述漏极相连的位线;与所述源极相连的源极线;和通过第一绝缘膜与浮体区电绝缘的平板电极,其中在用于向存储器单元写数据的时段的至少一部分中,改变平板电极的电势以减小存储器单元的阈值电压的绝对值。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储器 器件 及其 驱动 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器器件,包括:半导体衬底,其包括第一绝缘膜上的半导体层;存储器单元,其包括在所述半导体层中形成的源极、在所述半导体层中形成的漏极以及设在所述源极和所述漏极之间的浮体区,该存储器单元根据在所述浮体区中累积的电荷量来存储数据;设在所述存储器单元的浮体区上的第二绝缘膜;设在所述第二绝缘膜上的字线;与所述漏极相连的位线;与所述源极相连的源极线;和通过所述第一绝缘膜与所述浮体区电绝缘的平板电极,其中在用于向所述存储器单元写数据的时段的至少一部分中,改变所述平板电极的电势,以减小所述存储器单元的阈值电压的绝对值。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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