[发明专利]半导体器件的器件隔离结构及其形成方法无效

专利信息
申请号: 200610103586.X 申请日: 2006-07-25
公开(公告)号: CN1905186A 公开(公告)日: 2007-01-31
发明(设计)人: 丁明镇 申请(专利权)人: 东部电子株式会社
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;H01L27/04;H01L21/822;H01L21/76
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 顾晋伟;刘继富
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 公开了一种隔离结构及其形成方法。本发明隔离结构包括:衬底,其包括具有第一晶格参数的第一半导体层、具有大于第一晶格参数的第二晶格参数的第二半导体层、以及应变半导体层;在衬底中的注入有第一导电型杂质的阱;多个隔离层,形成在应变半导体层和第二半导体层中,每个隔离层以预定距离彼此分离,由此限定有源区;和多个穿通停止层,注入有第二导电型的杂质,每个穿通停止层形成在每个隔离层之下。
搜索关键词: 半导体器件 器件 隔离 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件的隔离结构,包括:衬底,包括具有第一晶格参数的第一半导体层、具有比所述第一晶格参数大的第二晶格参数的第二半导体层、以及应变半导体层;在所述衬底中的注入有第一导电型杂质的阱;多个隔离层,形成在所述应变半导体层和第二半导体层中,每个隔离层以预定距离彼此分离,由此限定有源区;以及多个穿通停止层,注入有第二导电型的杂质,每个穿通停止层形成在每个隔离层之下。
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