[发明专利]具有未掺杂源极与汲极区的陷入储存快闪记忆胞结构有效
申请号: | 200610103887.2 | 申请日: | 2006-08-04 |
公开(公告)号: | CN101047188A | 公开(公告)日: | 2007-10-03 |
发明(设计)人: | 许嘉伦;刘慕义 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L29/792;G11C16/02 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明描述制造氮化物捕捉电可抹除可程式化唯读记忆体快闪记忆体的方法,其中每个记忆体单元使用硅翼片来形成氮化物捕捉电可抹除可程式化唯读记忆体快闪单元,在所述氮化物捕捉电可抹除可程式化唯读记忆体快闪单元中,源极区域和汲极区域均未掺杂。一行氮化物捕捉记忆体单元中的所选择的多晶硅闸极的每个邻近多晶硅闸极用于产生反转区域,充当用于传送所需电压的源极区域或汲极区域,其在每个记忆体单元的所述源极区域和所述汲极区域均未掺杂的情况下保存记忆体单元的密度。所述快闪记忆体包括与多个硅翼片层交叉的多个多晶硅层。 | ||
搜索关键词: | 具有 掺杂 汲极区 陷入 储存 记忆 结构 | ||
【主权项】:
1、一种快闪记忆体阵列,其特征在于其包括:第一电荷捕捉记忆体单元,具有覆盖第一电荷捕捉薄膜的闸极电极、未掺杂的源极区域和未掺杂的汲极区域;第二电荷捕捉记忆体单元,邻近所述第一记忆体单元的第一侧安置,所述第一记忆体单元具有覆盖第二电荷捕捉薄膜的闸极电极、未掺杂的源极区域和未掺杂的汲极区域;第三电荷捕捉记忆体单元,邻近所述第一记忆体单元的第二侧安置,所述第三记忆体单元具有覆盖第三电荷捕捉薄膜的闸极电极、未掺杂的源极区域和未掺杂的汲极区域;和硅翼片层,越过所述第一电荷捕捉记忆体单元、所述第二电荷捕捉记忆体单元和所述第三电荷捕捉记忆体单元正交延伸。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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