[发明专利]一种零留膜的压印模板及压印光刻图形转移方法无效
申请号: | 200610105267.2 | 申请日: | 2006-12-26 |
公开(公告)号: | CN1996141A | 公开(公告)日: | 2007-07-11 |
发明(设计)人: | 段玉岗;王权岱;丁玉成;卢秉恒;刘红忠 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G03F1/14;G03F7/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 李郑建 |
地址: | 710049*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种零留膜的压印模板及压印光刻图形转移方法,该方法包括压印模板制作、压印、曝光、脱模、显影等工艺步骤,得到基材上零压印底膜的光刻胶转移图形。本发明通过蒸镀、溅射、CVD、电镀等工艺在透明压印模板上图形的突出部位镀覆一层不透紫外光材料薄层,该不透光材料薄层在压印光刻工艺中位于压印底膜的上方,对底膜起到曝光掩模的作用,使底膜部分不发生交联固化。这样,在压印光刻脱模后底膜通过简单的显影工艺即可以得到没有底膜的光刻胶图形。采用该工艺可以避免常规压印光刻工艺中耗时的RIE去除底膜工艺步骤,使整个压印光刻工艺效率大大提高,同时降低了成本。本发明适用于图形特征尺寸为1mm以下压印光刻图形转移工艺。 | ||
搜索关键词: | 一种 零留膜 压印 模板 光刻 图形 转移 方法 | ||
【主权项】:
1.一种零留膜的压印模板及压印光刻图形转移方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)模板制作:通过蒸镀、溅射、CVD、电镀工艺在压印模板材料上镀覆一层不透紫外光材料薄层,然后采用光刻、湿法刻蚀或光刻、干法刻蚀制作压印模板,该压印模板上图形突出部位保留有不透紫外光材料薄层;或者先制作透明压印模板,然后通过蒸镀、溅射、CVD、电镀或其它工艺方法在模板上图形突出部位镀覆不透紫外光材料薄层;2)压印光刻:用步骤1)所制作的模板进行压印、曝光;3)脱模显影:压印、曝光后脱模,然后采用显影液显影的方法去除压印底膜,即可得到没有压印底膜的光刻胶图形。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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