[发明专利]用于移除浸润式微影溶液的组合物及制造半导体器件的方法无效

专利信息
申请号: 200610105645.7 申请日: 2006-07-17
公开(公告)号: CN1959542A 公开(公告)日: 2007-05-09
发明(设计)人: 郑载昌;李晟求 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: G03F7/42 分类号: G03F7/42;G03F7/20;G03F7/16;H01L21/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 封新琴;巫肖南
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明披露一种用于移除浸润式微影溶液的组合物。该组合物包括有机溶剂与酸性化合物。另外还揭示了一种用来制造半导体器件的方法,其包括浸润式微影法。当利用浸润式微影法来形成光阻剂图案时,利用浸润式微影法曝光器,在形成于底层上的阻剂薄膜上方进行曝光过程。然后,将该组合物滴在晶片上,以移除在该光阻剂薄膜上的残余浸润式微影溶液,由此改良水痕缺陷现象。
搜索关键词: 用于 浸润 式微 溶液 组合 制造 半导体器件 方法
【主权项】:
1.一种用于移除浸润式微影溶液的组合物,该组合物包括:沸点低于150℃的有机溶剂;以及酸性化合物,其存在的量为0.005至10重量份,基于100重量份的有机溶剂。
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