[发明专利]微型芯片测定装置无效
| 申请号： | 200610105788.8 | 申请日： | 2006-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN1904588A | 公开（公告）日： | 2007-01-31 |
| 发明（设计）人： | 松本茂树;小新堂透 | 申请（专利权）人： | 优志旺电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;H05B37/02;G01N33/48 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 钟强;关兆辉 |
| 地址： | 日本国东京*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种微型芯片测定装置，能够降低因短弧光型放电灯的光量的增减而带来的影响，能够得到可靠性高的测定结果。本发明所涉及的微型芯片测定装置，其特征在于，具有光源灯和灯点亮装置，使来自灯的光透过微型芯片的被检查液填充部，测定该透过光的光量，根据取得的数据测定被检查液的吸光度，并具有灯光量检测单元和控制单元，该灯光量检测单元检测来自光源灯的光量变化，该控制单元根据来自该灯光量检测单元的数据，在检测出变化时，中止或中断微型芯片透过光的光量取得。 | ||
| 搜索关键词： | 微型 芯片 测定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种微型芯片测定装置，具有光源灯和点亮该光源灯的灯点亮装置，来自上述灯的光透过微型芯片的被检查液填充部，测定该透过光的光量，根据取得的数据测定被检查液的吸光度，其特征在于，具有：灯光量检测单元，检测来自光源灯的光量变化；和控制单元，在根据来自该灯光量检测单元的数据，检测出变化时，中止或中断微型芯片透过光的光量取得。
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