[发明专利]散热型封装结构及其制法无效
申请号: | 200610106287.1 | 申请日: | 2006-07-17 |
公开(公告)号: | CN101110370A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
发明(设计)人: | 黄建屏;蔡和易;曾文聪 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L23/34;H01L23/31 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 戈泊;郭笑傲 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种散热型封装结构及其制法,主要将半导体晶片接置并电性连接在晶片承载件上,并将表面附有介面层的散热件接置于该半导体晶片上,以在该晶片承载件上形成完整包覆该半导体晶片及该附有介面层的散热件的封装胶体,接着依封装结构预定尺寸切割该晶片承载件及封装胶体,并对该封装胶体顶缘形成斜角,以局部外露出该附有介面层的散热件边缘,之后再予移除位于介面层上的封装胶体,从而通过该封装胶体与该介面层顶面保有间隔高度以形成覆盖该介面层的封装胶体,藉以避免现有封装模具抵压于半导体晶片所产生的压损及溢胶问题,同时切割作业的切割路径未通过该散热件,得以避免现有切割刀具直接切割散热件所产生的毛边与刀具耗损问题,进而得以降低切割成本。 | ||
搜索关键词: | 散热 封装 结构 及其 制法 | ||
【主权项】:
1.一种散热型封装结构制法,包括:将至少一半导体晶片接置并电性连接于一晶片承载件上;将一表面附有介面层的散热件接置于该半导体晶片上;进行封装模压作业,以使封装胶体完整包覆住位于该晶片承载件上的半导体晶片及该附有介面层的散热件;依封装结构预定尺寸沿该晶片承载件及封装胶体外围进行切割;在该封装胶体顶缘形成斜角,以局部外露出该附有介面层的散热件边缘;以及进行移除作业,以移除位于介面层上的封装胶体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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