[发明专利]光信息检测方法、光信息检测器、数据采样方法无效
| 申请号： | 200610107414.X | 申请日： | 2006-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN101030392A | 公开（公告）日： | 2007-09-05 |
| 发明（设计）人： | 尹弼相;金学善;黄义石 | 申请（专利权）人： | 大宇电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/0065 | 分类号： | G11B7/0065;G11B7/13;G03H1/22 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种光信息检测方法、光信息检测器、数据采样方法。该光信息检测方法包括以下步骤：通过使用1∶N过量检测像素，对以均衡码字编码的源数据页的图像进行检测，其中N大于1；通过使用被检测图像的光强分布，确定被检测图像中的有效检测像素和待校正的无效检测像素的分布模式；以及将被检测图像分成与所述均衡码字相对应的多个均衡码字检测区，并通过使用确定的分布模式和所述均衡码字的光分布特性，对所述多个均衡码字检测区的数据进行采样。因此，可以通过使用1∶N过采样方法对光信息进行高效的检测。具体来说，可以正确地使用数据页的被检测图像中的有效检测像素和无效检测像素的分布模式，来对均衡码进行采样。 | ||
| 搜索关键词： | 信息 检测 方法 检测器 数据 采样 | ||
【主权项】：
1、一种光信息检测方法，包括以下步骤：通过使用1:N过量检测像素，对以均衡码字编码的源数据页的图像进行检测，其中N大于1；通过使用被检测图像的光强分布，确定被检测图像中的有效检测像素和待校正的无效检测像素的分布模式；以及将被检测图像分成与所述均衡码字相对应的多个均衡码字检测区，并通过使用确定的分布模式和所述均衡码字的光分布特性，对所述多个均衡码字检测区的数据进行采样。
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