[发明专利]静电容式坐标检测装置无效
| 申请号： | 200610107639.5 | 申请日： | 2006-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN1904814A | 公开（公告）日： | 2007-01-31 |
| 发明（设计）人： | 高桥宽明 | 申请（专利权）人： | 阿尔卑斯电气株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供能够增大可以高精度检测的检测区的面积的静电容式坐标检测装置。基板(21)具有布线区(30、31、32)，其中配置了与检测电极(1x、2x、3x、4x、5x、6x、1y、2y、3y、4y、5y、6y、7y、8y)相连接的引出部(27、29a、29b)，在布线区(34)内引出部(27、29a、29b)延伸的方向，与检测电极(1x、2x、3x、4x、5x、6x、1y、2y、3y、4y、5y、6y、7y、8y)的延伸方向相交叉，基板(21)产生变形，使布线区(30、31、32)离开表面(21e)。 | ||
| 搜索关键词： | 静电 坐标 检测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种坐标检测装置，具有：基板，由绝缘材料形成，具有与导电体相接触或接近的操作侧的表面和该表面反侧的背面；多个检测电极，位于上述表面或背面上，向一个方向平行延伸；以及共用电极，位于上述表面或背面上，与上述检测电极空出间隔而配置；当导电体与上述表面相接触或接近时，上述检测电极和上述共用电极之间的静电电容发生变化，上述基板具有与上述检测电极连续的引出部所在的布线区，在上述布线区，上述引出部向与上述检测电极的延伸方向相交叉的方向延伸；上述基板变形，以使上述引出部离开与上述表面相接触的上述导电体。
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