[发明专利]利用光传感器的检测物探测装置以及探测方法有效
申请号: | 200610108093.5 | 申请日: | 2006-07-27 |
公开(公告)号: | CN1905368A | 公开(公告)日: | 2007-01-31 |
发明(设计)人: | 关山茂 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | H03K17/18 | 分类号: | H03K17/18;G01V8/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种利用光传感器的检测物探测装置以及探测方法,避免在探测检测物的运用时逐次检测受光元件的输出电压电平,缩短用于进行确定基准电压的处理的处理时间。包括具有发光元件和受光元件的光传感器,配置所述光传感器使得从所述发光元件到达受光元件的光通过检测物的位置,利用所述光传感器的输出状态探测有无所述检测物,其中,其包括:基准电压生成部;对光传感器输出和从基准电压生成部输出的基准电压进行比较并利用该结果探测有无所述检测物的比较器;以及向基准电压生成部供给用于输出基准电压的控制信号的控制部。控制部在探测检测物之前取得光传感器输出值,根据该值确定探测有无检测物时的基准电压。 | ||
搜索关键词: | 利用 传感器 检测 物探 装置 以及 探测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种检测物探测装置,包括具有发光元件和受光元件的光传感器,配置所述光传感器使得从所述发光元件到达所述受光元件的光通过检测物的位置,利用所述光传感器的输出状态探测有无所述检测物,所述检测物探测装置还包括:基准电压生成部,其生成基准电压;比较器,其对所述光传感器输出值和从所述基准电压生成部输出的基准电压进行比较,利用该结果探测有无所述检测物;以及控制部,其向所述基准电压生成部供给用于输出所述基准电压的控制信号,所述控制部根据需要,在探测所述检测物之前取得所述光传感器输出值,根据所述光传感器输出值,确定探测有无所述检测物时的所述基准电压。
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