[发明专利]摄影测量中特征采样方法无效
| 申请号： | 200610109243.4 | 申请日： | 2006-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN1888820A | 公开（公告）日： | 2007-01-03 |
| 发明（设计）人： | 方新 | 申请（专利权）人： | 北京联合大学 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00;G01B11/00;G01B11/24;G01B21/00;G01B21/20 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 100101北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种摄影测量中特征采样方法，其包括以下步骤：对需要三维模型重构的零件进行三维实体造型特征分析；根据零件的基本特征情况确定采样的定位面；根据零件的基本特征情况确定零件定位面的运动路径；用二维工业CT技术对零件定位面及运动路径所在截面进行断层测量，从而得到二维截面轮廓线和二维运动路径；根据截面轮廓线及路径，实现对零件三维模型的重构。该方法可以获得较高的采样精度、不必采集大量的数据即可得到零件基本特征信息，减少了采样数据，大大提高了处理速度。 | ||
| 搜索关键词： | 摄影 测量 特征 采样 方法 | ||
【主权项】：
1、一种摄影测量中特征采样方法，其包括以下步骤：(1)对需要三维模型重构的零件进行三维实体造型特征分析；(2)根据零件的基本特征情况确定采样的定位面；(3)根据零件的基本特征情况确定零件定位面的运动路径；(4)用二维工业CT技术对零件定位面及运动路径所在截面进行断层测量，从而得到二维截面轮廓线及二维运动路径；(5)根据所获得的截面轮廓线及运动路径，实现对零件三维模型的重构。
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