[发明专利]一种冰晶石中主次量元素的测定方法无效
申请号: | 200610109373.8 | 申请日: | 2006-08-14 |
公开(公告)号: | CN1888883A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | 张爱芬;张树朝;马慧侠;冯敬东;李建平;李波 | 申请(专利权)人: | 中国铝业股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N1/28 |
代理公司: | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人: | 李迎春 |
地址: | 100814北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种冰晶石中主次量元素的测定方法,涉及一种用于冰晶石产品级别的判定的冰晶石产品中主次量元素含量的测定方法。其特征在于测定过程包括:a.标准样品、监控样品和试样干燥后,分别放在研钵中,加入无水乙醇,研磨后倒入模具加压压成标准样片、监控样片和试样片;b.将制得的标准样片和监控样片,用X射线荧光光谱法测定标准样品的荧光强度、制作出校准曲线;c.将试样样片用X射线荧光光谱仪测量强度和计算出成份含量。使用本发明可以准确、快速的测定出冰晶石中主次量元素的含量。提高测定的准确度,满足冰晶石用户的要求,提高工作效率,节约测试成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 冰晶石 主次 元素 测定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种冰晶石中主次量元素的测定方法,其特征在于测定过程包括:a.标准样品、监控样品和试样干燥后,分别放在研钵中,加入无水乙醇,研磨后倒入模具加压压成标准样片、监控样片和试样片;b.将制得的标准样片和监控样片,用X射线荧光光谱法测定标准样品的荧光强度、制作出校准曲线;c.将试样样片用X射线荧光光谱仪测量强度和计算出成份含量。
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