[发明专利]光条图像特征高精度快速提取装置及方法无效

专利信息
申请号: 200610109984.2 申请日: 2006-08-25
公开(公告)号: CN1908578A 公开(公告)日: 2007-02-07
发明(设计)人: 张广军;江洁;邓珏琼;席登奎 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C11/00
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 黄挺
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种光条图像特征高精度快速提取装置及方法,该装置包括:光条图像卷积单元、特征提取单元和光条中心亚像素点提取单元,所述的光条图像卷积单元连接特征提取单元,所述的特征提取单元连接光条中心亚像素点提取单元,光条图像卷积单元用于对输入的图像数据进行一维方向的0阶、1阶和2阶高斯微分卷积,特征提取单元根据光条图像卷积单元输出的高斯微分卷积结果计算Hessian矩阵的特征值,光条中心亚像素点提取单元根据光条图像卷积单元输出的高斯微分卷积结果和特征提取单元输出的特征值来提取光条中心的亚像素像点坐标。本发明的优点是实现光条中心提取的实时化和硬件化,不但可实现大规模的高斯卷积,而且减小了逻辑资源的使用。
搜索关键词: 图像 特征 高精度 快速 提取 装置 方法
【主权项】:
1.一种光条图像特征高精度快速提取装置,其特征在于包括:光条图像卷积单元、特征提取单元和光条中心亚像素点提取单元,所述的光条图像卷积单元连接特征提取单元,所述的特征提取单元连接光条中心亚像素点提取单元,光条图像卷积单元用于对输入的图像数据进行一维方向的0阶、1阶和2阶高斯微分卷积,特征提取单元根据光条图像卷积单元输出的高斯微分卷积结果计算Hessian矩阵的特征值,光条中心亚像素点提取单元根据光条图像卷积单元输出的高斯微分卷积结果和特征提取单元输出的特征值来提取光条中心的亚像素像点坐标。
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