[发明专利]用于选择性地存取和配置半导体晶片的各个芯片的方法和装置

摘要

依据本发明的方法和装置能利用单个通电和断电序列来配置晶片芯片，并且进一步能在晶片测试期间在不利用该序列的情况下调整芯片参数。特别地，分配给测试中的每个晶片芯片唯一的可编程标识。一旦每个芯片被分配了相应的标识，通过该标识，芯片每个都是可单独存取的以便提供参数值给芯片寄存器以配置该芯片。随后可并行地测试已配置的芯片以估计参数设置。另外，本发明能使芯片共享数据I/O引脚或线，从而减少了每个芯片所用的测试机引脚的数量并且能够实现以并行方式测试更多数量的芯片。

主权项

1.一种测试并且单独配置晶片的多个芯片的方法，包括：(a)标记用于测试的晶片的多个芯片；(b)将所述标记的芯片耦接到晶片测试系统，其中所述系统发出命令以测试并且配置所述多个芯片；(c)给每个所述标记的芯片分配标识并且在该芯片的相应的寄存器内存储所述分配的标识，以响应所述标记的芯片从所述晶片测试系统接收标识命令；(d)选择标记的芯片；以及(e)确定至少一个参数值用于所述选择的芯片，基于所述分配的标识单独地存取所述选择的芯片，以及在相应的芯片寄存器中存储每个确定的参数值以配置该芯片，以响应所述标记的芯片从所述晶片测试系统接收选择和参数命令，其中所述芯片中的至少两个包括不同的参数值。