[发明专利]利用色谱仪检测微量物质的方法和装置无效
| 申请号： | 200610111270.5 | 申请日： | 2006-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN101131380A | 公开（公告）日： | 2008-02-27 |
| 发明（设计）人： | 刘斌 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/86 | 分类号： | G01N30/86;G01N30/02 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 肖善强 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用色谱仪检测微量物质的方法，包括：利用色谱仪对含有高浓度的待测物质的试样进行分析测量，得到待测物质的峰范围；在同样的色谱条件下，利用色谱仪对可能含有微量待测物质的待测样品进行分析测量，得到由一系列数据点组成的待测样品的原始色谱数据；利用数学函数模拟待测样品原始色谱图的基线，其中模拟过程中排除了位于待测物质峰范围内的数据点；将待测样品各个原始色谱数据点强度值减去该点的数学函数模拟值，从而得到校正后的色谱数据。本发明还提供了一种适于进行上述方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 色谱仪 检测 微量 物质 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种利用色谱仪检测微量物质的方法，包括如下步骤：利用色谱仪对含有高浓度的待测物质的配制试样进行分析测量，得到待测物质的峰范围；在同样的色谱条件下，利用色谱仪对可能含有微量待测物质的待测样品进行分析测量，得到由一系列数据点组成的待测样品的原始色谱数据，其中的数据点至少包括每个点对应的色谱保留时间和峰强度值；利用数学函数模拟待测样品原始色谱数据点，其中模拟过程中排除了落在待测物质峰范围内的数据点；将待测样品各个原始色谱数据点强度值减去该点的数学函数模拟值，从而得到校正后的色谱数据。
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