[发明专利]双光路全反射X荧光分析仪无效
| 申请号： | 200610111339.4 | 申请日： | 2006-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN101131370A | 公开（公告）日： | 2008-02-27 |
| 发明（设计）人： | 田宇纮 | 申请（专利权）人： | 北京普析通用仪器有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京市合德专利事务所 | 代理人： | 李本源 |
| 地址： | 100081北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种双光路全反射X荧光分析仪，包括至少两只不同的激发源(X光管)、上反射体、下反射体、载样片、样品压环，所述的两只不同的激发源共用同一电源并可自动切换。两只激发源与载样片和样品压环之间，各设有上反射体和下反射体，所述的上反射体和下反射体之间有很小间距，X射线以非常小的掠射角射入该间隙，并在上反射体和/或下反射体的反射面上产生全反射，最终到达被测样品处。本发明所述双光路全反射X荧光分析仪的优点在于：可以使用于测试不同的元素，使用中不需要多次更换激发源，多次切断电源、调整光路等，可以明显提高测试效率。并使得在分析灵敏度上由于使用不同激发源而得到互补提高，可操作性和方便性明显，能更好地满足使用者要求。 | ||
| 搜索关键词： | 双光路 全反射 荧光 分析 | ||
【主权项】：
1.一种双光路全反射X荧光分析仪，其特征在于包括至少两只不同的X光管、上反射体、下反射体、载样片、样品压环，所述的两只不同的激发源共用同一电源并可自动切换，两只激发源与载样片和样品压环之间，各设有上反射体和下反射体，所述的上反射体和下反射体之间有很小间距。当本分析仪处于工作状态时。
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