[发明专利]非挥发性记忆元件及其制造方法有效
申请号: | 200610111475.3 | 申请日: | 2006-08-22 |
公开(公告)号: | CN101131963A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | 林正伟;刘光文;陈昕辉 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8246 | 分类号: | H01L21/8246;H01L27/112 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种非挥发性记忆元件及其制造方法。该非挥发性记忆元件的制造方法是先在基底中形成多个沟渠;并于沟渠中填入第一导体层,以做为埋入式位元线;接着,在基底上形成电荷储存层,覆盖基底表面以及第一导体层的表面;之后,在上述电荷储存层上形成第二导体层,以做为字元线。该非挥发性记忆元件包括多数个具有掺杂的第一导体层、基底、一电荷储存层及多数个第二导体层。本发明非挥发性记忆元件及其制造方法可以避免聚合物残留造成字元线直接与位元线的掺杂区接触所导致的短路问题。 | ||
搜索关键词: | 挥发性 记忆 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种非挥发性记忆元件的制造方法,其特征在于其包括以下步骤:在一基底中形成多数个沟渠;在该些沟渠中分别形成一第一导体层,以做为多数个埋入式位元线;在该基底上形成一电荷储存层,覆盖该基底表面以及该些第一导体层层的表面;以及在该电荷储存层上形成多数个第二导体层,以做为多数个字元线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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