[发明专利]减厚的多晶片堆叠封装构造无效
申请号: | 200610111541.7 | 申请日: | 2006-08-23 |
公开(公告)号: | CN101131991A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | 林鸿村 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/00 | 分类号: | H01L25/00;H01L23/488 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 台湾省新竹县新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种减厚的多晶片堆叠封装构造,主要包含一导线架的一间隔承座与复数个引脚、一第一晶片、一第二晶片以及一封胶体。该第一晶片的主动面上形成有复数个第一电极,并电性连接至部分的该些引脚。该第二晶片的主动面上是形成有复数个第二电极,并电性连接至部分的该些引脚。该封胶体是用以结合该间隔承座、该些引脚、该第一晶片与该第二晶片。其中,第一晶片的主动面是贴附于该间隔承座的下方,第二晶片的第二背面是贴附于该间隔承座的上方,并且该间隔承座是不遮盖至该第一晶片的该些第一电极,而可达到多晶片正向堆叠的减厚功效。 | ||
搜索关键词: | 多晶 堆叠 封装 构造 | ||
【主权项】:
1.一种减厚的多晶片堆叠封装构造,其特征在于其包含:一导线架的一间隔承座与复数个引脚;一第一晶片,其具有一第一主动面与一第一背面,该第一主动面上形成有复数个第一电极,其电性连接至部分的该些引脚;一第二晶片,其具有一第二主动面与一第二背面,该第二主动面上形成有复数个第二电极,其电性连接至部分的该些引脚;以及一封胶体,用以结合该间隔承座、该些引脚、该第一晶片与该第二晶片;其中,第一晶片的第一主动面是贴附于该间隔承座的下方,第二晶片的第二背面是贴附于该间隔承座的上方,并且该间隔承座是不遮盖至该第一晶片的该些第一电极。
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