[发明专利]高提取效率的半导体发光二极管结构及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200610114080.9 申请日: 2006-10-27
公开(公告)号: CN1945862A 公开(公告)日: 2007-04-11
发明(设计)人: 沈光地;达小丽;朱彦旭;徐晨;陈依新;黄红娟 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人: 刘萍
地址: 100022*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 高提取效率的半导体发光二极管结构及其制备方法属于光电子器件制造技术领域,适合于多种波长的半导体LED。现有LED虽然内量子效率高,但是外量子效率很低,只有很少的一部分光子能够从LED出射。本发明提出在LED外延片上生长ITO透明导电膜与SixNy介质膜组成的复合增透膜结构,ITO透明导电膜的光学厚度为二分之一LED发射波长的整数倍,SixNy介质膜的光学厚度为四分之一LED发射波长的奇数倍,SixNy介质膜的折射率是LED外延片最上层半导体材料的折射率的开方。这种设计能够在实现好的电流扩展的同时,将界面反射率降到最低来实现最佳增透作用,极大的提高外量子效率,使得光强增加了130%以上。
搜索关键词: 提取 效率 半导体 发光二极管 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
1、一种高提取效率的半导体发光二极管结构,包括LED外延片,其特征是在LED外延片的最上层半导体材料表面上依次生长光学厚度为1/2波长整数倍的ITO透明导电膜(3)和光学厚度为1/4波长奇数倍的SixNy介质膜(2),并且SixNy介质膜(2)的折射率为LED外延片最上层半导体材料的折射率的开方,P电极(1)的底部与ITO透明导电膜(3)直接接触,P电极(1)的侧壁与SixNy介质膜(2)直接接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610114080.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top