[发明专利]一种测试磁盘阵列的方法有效

专利信息
申请号: 200610114659.5 申请日: 2006-11-20
公开(公告)号: CN101192180A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: 霍东风;谢俊杰 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;H04N5/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁挥;刘健
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种测试磁盘阵列的方法,包括如下步骤:A.预设并读取测试参数,该测试参数包括速率和检测时间间隔;B.创建一读取文件任务,按照预设的速率读取存储在磁盘阵列的文件;C.创建一检测任务,按照预设的检测时间间隔检测读取文件任务是否正常按照预设的速率读取数据,如果正常则返回步骤B,继续增加读取文件任务;如果不正常,则终止测试。本发明通过预设测试参数,创建读取文件任务和检测任务,模拟机顶盒工作原理,然后判断读取文件任务是否正常读取数据。借此,本发明可按照流媒体的特点,简单、快捷地测试出磁盘阵列的读取数据性能。另外,本发明还可以在满足流媒体要求的情况下,检测磁盘阵列的读取数据性能极限。
搜索关键词: 一种 测试 磁盘阵列 方法
【主权项】:
1.一种测试磁盘阵列的方法,其特征在于,包括如下步骤:A、预设并读取测试参数,该测试参数包括速率和检测时间间隔;B、创建一读取文件任务,按照预设的速率读取存储在磁盘阵列的文件;C、创建一检测任务,按照预设的检测时间间隔检测读取文件任务是否正常按照预设的速率读取数据,如果正常则返回步骤B,继续增加读取文件任务;如果不正常,则终止测试。
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