[发明专利]10位AD采样计算电路及其采样方法无效

专利信息
申请号: 200610117018.5 申请日: 2006-10-11
公开(公告)号: CN101162238A 公开(公告)日: 2008-04-16
发明(设计)人: 叶桂军;周青 申请(专利权)人: 上海广电电气(集团)有限公司
主分类号: G01R1/00 分类号: G01R1/00;G01R1/30;G01R15/08;G01R15/09;H03M1/12
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 代理人: 陈逸良
地址: 201400上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种使用10位AD芯片实现0.2级的高测量精度的采样计算电路及测量方法。其采样计算电路包括输入端运算放大电路、大信号计算电路、小信号计算电路和10位AD芯片,其输入端运算放大电路的输出端连接大信号计算电路和小信号计算电路的并联输入端,大信号计算电路和小信号计算电路的输出端分别连接10位AD芯片的对应输入端。其方法是首先使用小信号计算电路的计算,当输入信号大于10位AD芯片量程的0~1/3时,小信号计算电路的AD采样值失真,则舍弃小信号计算电路的采样值,再采用大信号计算电路的AD采样值。本发明的10位AD采样计算电路,采用10位AD实现了信号全量程的0.2级高精度测量,不但实现了高精度测量的要求,更降低了产品的成本的制造成本。
搜索关键词: 10 ad 采样 计算 电路 及其 方法
【主权项】:
1.一种10位AD采样计算电路,包括输入端运算放大电路、大信号计算电路、小信号计算电路和10位AD芯片,其特征在于:所述输入端运算放大电路的输出端连接大信号计算电路和小信号计算电路的并联输入端,大信号计算电路的输出端连接10位AD芯片的输入端AD1,小信号计算电路的输出端连接10位AD芯片的输入端AD2。
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