[发明专利]去除芯片外保护层的装置及方法有效

专利信息
申请号: 200610118506.8 申请日: 2006-11-20
公开(公告)号: CN101192506A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: 周晶;梁山安;季春葵;赵燕丽 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 李勇
地址: 201203*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种去除芯片外保护层的装置,包括:带有凹槽和滑道的样品台,固定轴固定于样品台上凹槽的一侧及滑道的对侧,由套筒、刮片、手柄构成的刮取部件以及由高度调节套筒、高度调节手柄构成的高度调节部件。通过先放置样品于凹槽中,装上刮取部件和高度调节部件,使刮片的刀刃紧密接触样品,即可刮取样品表面的外保护层。本发明的装置和方法简单、易于操作,可以节省时间和成本。
搜索关键词: 去除 芯片 保护层 装置 方法
【主权项】:
1.一种去除芯片外保护层的装置,包括:样品台,用于放置样品和设置组件;在样品台上有一凹槽,用于容置样品;一固定轴,至少部分带有罗纹,设置于样品台上凹槽的一侧;一滑道设置于样品台上与固定轴相对的一侧;刮取部件,包括一套筒、刮片、手柄,其中刮片的一端与套筒连接,另一端与手柄连接,套筒以可相对旋转地与固定轴连接,手柄下端设置在滑道上可沿滑道移动;高度调节部件,包括套筒,内有罗纹与固定轴上的罗纹相配合,顶部有高度调节手柄,与高度调节套筒连接。
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