[发明专利]多样化的BIST测试方法有效
| 申请号： | 200610119193.8 | 申请日： | 2006-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN101196555A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 陈凯华;谢晋春;陈婷;辛吉升;桑浚之 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3187 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾继光 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及芯片测试方法，公开了一种多样化的BIST测试方法，包括步骤：通过逻辑接口单元对NVM进行测试；将测试图形转换成代码格式的指令集后，存放于NVM区；经外部指令激活的CPU读取NVM区内指令集，并依据该指令集的内容对芯片内的电路单元进行激励；获取响应后，在输入输出端口上返回电平或代码；擦除NVM内代码，再重复前述步骤，进行下一个测试图形的操作。本发明多样化的BIST测试方法，可极大地节约芯片面积，节省测试通道，增加同测能力，并减少对测试硬件的依赖。 | ||
| 搜索关键词： | 多样化 bist 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多样化的BIST测试方法，包括减少管脚数量，其特征在于，还包括如下步骤：(1)通过逻辑接口单元对NVM进行测试，以保证NVM的可测性；(2)将测试图形转换成代码格式的指令集后，存放于NVM区；(3)经外部指令激活的CPU读取NVM区内指令集，并依据该指令集的内容对芯片内的电路单元进行激励；(4)获取各电路单元的响应后，在输入输出端口上返回电平或代码，以表示测试结果；(5)擦除NVM内代码，再重复步骤(2)至(4)，进行下一个测试图形的操作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹NEC电子有限公司，未经上海华虹NEC电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610119193.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种降低发光二极管光衰的方法
- 下一篇：种植材料的种植
