[发明专利]单晶InP方形纳米孔阵列的制备方法无效

专利信息
申请号: 200610119251.7 申请日: 2006-12-07
公开(公告)号: CN1986912A 公开(公告)日: 2007-06-27
发明(设计)人: 郑茂俊;曾安生;马荔;沈文忠 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: C30B33/10 分类号: C30B33/10
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;张宗明
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种单晶InP方形纳米孔阵列的制备方法,属于纳米技术领域。本发明利用两步化学刻蚀方法,包括电化学刻蚀过程和无电湿法刻蚀过程,首先为电化学刻蚀过程,包括InP单晶片样品的准备、电抛光和多孔阵列刻蚀,其后为无电湿法刻蚀过程,包括湿法择优腐蚀和超声波清洗,最终获得单晶InP方形纳米孔阵列。利用本发明方法,实现了在Sn掺杂n型(100)面InP单晶样品制备均匀有序的单晶InP方形纳米孔阵列。
搜索关键词: inp 方形 纳米 阵列 制备 方法
【主权项】:
1、一种单晶InP方形纳米孔阵列的制备方法,其特征在于,利用两步化学刻蚀方法,包括电化学刻蚀过程和无电湿法刻蚀过程:首先为电化学刻蚀过程,包括InP单晶片样品的准备、电抛光和多孔阵列刻蚀;然后为无电湿法刻蚀过程,包括湿法择优腐蚀和超声波清洗;最终获得单晶InP方形纳米孔阵列。
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