[发明专利]实现SOC芯片中多任务多FLASH同时测试的方法

摘要

本发明公开了一种实现SOC芯片中多任务多FLASH同时测试的方法，可同时对多个FLASH的多项功能同时进行测试，提高对FLASH的测试效率，降低测试成本。该方法通过测试下载一个芯片测试的以事件触发的多任务测试程序到芯片内部，然后由测试仪激活芯片系统来运行该内部测试程序，从而使芯片利用本身的资源同时对多个测试任务进行测试，最后由测试仪发送指令将多个测试项目的结果取出来，以此来判断芯片合格与否。

主权项

1.一种实现SOC芯片中多任务多FLASH同时测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：首先设计一套对芯片测试的以事件触发的多任务测试程序；使用测试仪通过所述芯片上的输入输出端口将所述测试程序下载到所述芯片的存储器中作为FLASH测试的软件接口；通过所述测试仪向存储在存储器中的测试程序发送一个激活命令，开始测试，这时芯片存储器中的测试程序会通过所述芯片中的CPU执行第一个测试项目；所述CPU在等待第一个测试项目测试结果的时候，所述CPU激活针对于第二个测试项目的测试命令，开始执行第二个测试项目；若还有其他后续测试项目，则以此类推，直到进行到最后一个测试项目；所述CPU在等待最后一个测试项目测试结果的时候，向所述测试仪发送指令来读取第一个测试项目的结果；然后再在等待最后第二个测试项目测试结果的时候，再向所述测试仪发送指令来读取第二个测试项目的结果；如此循环，直至读取出所有测试项目的测试结果。