[发明专利]绝缘栅型场效应晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610121206.5 申请日: 2006-08-17
公开(公告)号: CN1941413A 公开(公告)日: 2007-04-04
发明(设计)人: 栉山和成;冈田哲也;及川慎;石田裕康;佐山康之 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L29/10;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种绝缘栅型场效应晶体管,在平面结构的MOSFET中,当降低漏极-源极间电压VDS时,耗尽层宽度变窄,在栅极电极的中央下方的栅极-漏极间电容Cgd(回授电容Crss)迅速增大。由于回授电容Crss影响开关特性,故存在高频开关特性不能提高的问题。在栅极电极的中央设置分离孔。可抑制在降低漏极-源极间电压VDS,且耗尽层宽度变窄的情况下的回授电容Crss的迅速增大。由此,高频开关特性提高。另外,从分离孔注入n型杂质,在沟道区域间形成n型杂质区域。由于可使栅极电极下方为低电阻,故可降低导通电阻。n型杂质区域可自对准形成。
搜索关键词: 绝缘 场效应 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种绝缘栅型场效应晶体管,其特征在于,具有:一导电型半导体衬底;设于所述衬底上的一导电型半导体层;在所述半导体层表面设有多个的反向导电型沟道区域;在相邻的所述沟道区域间的所述半导体层表间设置的栅极电极;将至少一部分的所述栅极等分割的分离孔;覆盖所述分离孔及所述栅极电极的绝缘膜;设于所述沟道区域表面的一导电型源极区域;在所述源极区域间的所述沟道区域表面设置的反向导电型体区。
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