[发明专利]测试数据的收集系统及方法无效
| 申请号： | 200610122329.0 | 申请日： | 2006-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN101154315A | 公开（公告）日： | 2008-04-02 |
| 发明（设计）人： | 涂和珍 | 申请（专利权）人： | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 |
| 主分类号： | G08C19/00 | 分类号： | G08C19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 528308广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试数据的收集方法，首先，电脑之测试单元进行电子产品的测试，并产生相应的测试数据；接着存储该测试数据于该电脑之第一存储单元上；然后将该第一存储单元存储的测试数据映射存储至该电脑之第二存储单元；最后该数据侦测单元实时侦测该第二存储单元，侦测到有测试数据之后，则传送该第二存储单元存储之测试数据至数据收集服务器中。本发明测试数据的收集方法仅利用一台电脑，进行电子产品的测试以产生相应的测试数据并传送至数据收集服务器，而无须另外增加一台电脑用于收集测试数据以传送至数据收集服务器，从而可节约电力资源以及电脑设备等。 | ||
| 搜索关键词： | 测试数据 收集 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试数据的收集系统，其包括：一电脑，该电脑包括：一测试单元，用于测试电子产品并产生相应的测试数据；一第一存储单元，与该测试单元连接，用于存储该测试数据；一第二存储单元，用于映射该第一存储单元以得到该测试数据；一数据侦测单元，用于实时侦测该第二存储单元中的测试数据；一数据收集服务器，连接该第二存储单元，用于接收该数据侦测单元侦测到测试数据后该第二存储单元所传送的测试数据。
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