[发明专利]硬盘效能评估方法无效
| 申请号： | 200610122347.9 | 申请日： | 2006-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN101154416A | 公开（公告）日： | 2008-04-02 |
| 发明（设计）人： | 黎汯洋 | 申请（专利权）人： | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/00 | 分类号： | G11B20/00;G11B27/00;G06F11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 528308广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明揭示一种硬盘效能评估方法，用于微型硬盘在可携式电子产品运作时的效能进行测试，该方法为一嵌入式系统依照下列步骤，评估该嵌入式系统所设的一硬盘的存取效能，其步骤为：利用该嵌入式系统所设的预设条件对该硬盘进行存取；取得该嵌入式系统达到该预设条件所读取的一总存取量，及存取达到该预设条件所花费的一总读取时间；利用该总存取量及该总读取时间计算出该嵌入式系统对该硬盘的存取效能，本发明的硬盘效能评估方法，利用嵌入式系统，解决微型硬盘在可携式电子产品运作时的效能进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 硬盘 效能 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种硬盘效能评估方法，为一嵌入式系统依照下列步骤，评估该嵌入式系统所设的一硬盘的存取效能，其特征在于，其步骤为：利用该嵌入式系统所设的预设条件对该硬盘进行存取；取得该嵌入式系统达到该预设条件所读取的一总存取量，及存取达到该预设条件所花费的一总读取时间；利用该总存取量及该总读取时间计算出该嵌入式系统对该硬盘的存取效能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司，未经佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610122347.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
