[发明专利]一种功能测试系统无效
| 申请号： | 200610122360.4 | 申请日： | 2006-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN101154176A | 公开（公告）日： | 2008-04-02 |
| 发明（设计）人： | 梁晟辉;揭应亮;梁海涛 | 申请（专利权）人： | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 528308广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种功能测试系统，包括一信号采集电路，一信号处理电路，一单片机系统，一多路信号选择开关，IIC总线电路，还有一存储装置，存储有一自动测试程序；功能测试系统通过信号采集电路采集有用的信号，经过信号处理电路处理后的部分输送给单片机系统处理，最终通过IIC电路和被测主板里的存储装置的自动测试程序相互沟通。单片机系统就会根据存储装置里的自动测试程序相互配合来达到最终的达到高效率、自动测试的效果；另外单片机系统通过RS232电路和计算机连接，可以把测试状况传到计算机里面实现计算机测试监控。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功能 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种功能测试系统，其特征在于：包括一信号采集电路，一信号处理电路，一单片机系统，一多路信号选择开关，一IIC总线，还有一存储装置，且该存储有一自动测试程序；自动测试系统通过信号采集电路采集被测试主板上的有用信号，经过信号处理电路处理后的部分输送给单片机系统，单片机通过多路信号选择开关和IIC总线电路，与被测试主板和该主板上连接的存储装置进行沟通。
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