[发明专利]微全分析系统非接触电导检测方法及装置无效
| 申请号： | 200610122689.0 | 申请日： | 2006-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN1932497A | 公开（公告）日： | 2007-03-21 |
| 发明（设计）人： | 陈缵光;李全文;李偶连;刘翠;蓝悠 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01N27/07 | 分类号： | G01N27/07;G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510275广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微型全化学分析系统的检测方法及其相应的装置。将芯片的盖片或基片设计成薄的膜片；在膜片的外侧沿毛细管通道对应的位置紧贴检测电极，检测电极与芯片内的毛细管通道不接触；向检测电极输入高频信号，检测毛细管通道内溶液在检测电极间区域的高频电导信息，得到分离图谱。本发明的优点在于工艺简单、使用方便、可在较低的激发频率和较低的激发电下工作、安全和稳定性能好。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 系统 接触 电导 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种微全分析系统非接触电导检测方法，包括使用高频信号源作激发，检测芯片毛细管通道内溶液在检测电极间区域的高频电导信号，其特征是，将芯片的盖片或基片做成薄膜片；在膜片的外侧沿毛细管通道对应的位置紧贴检测电极。
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