[发明专利]偏振相关损耗PDL的测量方法

摘要

一种偏振相关损耗PDL的测量方法，其特征在于：使入射调制光信号进入一个双折射器件，然后依次通过一个偏振旋转器，一个PDL待测器件，最后进入一个偏振计；使偏振旋转器沿偏振轴向旋转一周，在这个过程中分别记下所出现的DOP最大值和最小值，并根据公式(13)计算相应的器件PDL值，本方法的优点在于：可快速有效测量单波长或多波长情况下光器件或系统中的PDL量值；并可实现无人监控情况下的PDL智能测量，简单易行，反馈控制极其简单，且具有一定成本优势。

主权项

1、一种偏振相关损耗PDL测量方法，其特征在于：使入射调制光信号进入一个双折射器件，然后依次通过一个偏振旋转器，一个PDL待测器件，最后进入一个偏振计；使偏振旋转器沿偏振轴向旋转一周，在这个过程中分别记下所出现的DOP最大值和最小值，并根据公式(13)计算相应的器件PDL值，$\mathrm{PDL}=5\mathrm{lo}{g}_{10}\frac{1+\mathrm{DO}{P}_{\max }-\mathrm{DO}{P}_{\min }-\mathrm{DO}{P}_{\max }·{\mathrm{DOP}}_{\min }}{1+{\mathrm{DOP}}_{\min }-{\mathrm{DOP}}_{\max }-\mathrm{DO}{P}_{\max }·{\mathrm{DOP}}_{\min }}---\left(13\right)$