[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 200610125731.4 申请日: 2006-08-29
公开(公告)号: CN101043042A 公开(公告)日: 2007-09-26
发明(设计)人: 森屋晋 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H01L27/14 分类号: H01L27/14;H01L23/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 张龙哺
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置,其包括:半导体元件,其具有形成有成像区的上表面;透明构件,其与该半导体元件隔开指定的距离并且面向该半导体元件;以及密封构件,其构造为密封该半导体元件的边缘部分和该透明构件的边缘表面;其中,该透明构件中形成有凹槽形成部,所述凹槽形成部位于该透明构件的边缘表面侧,该边缘表面侧位于该半导体元件的该成像区的外缘的外部。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其包括:半导体元件,其具有形成有成像区的上表面;透明构件,其与该半导体元件隔开指定的距离并且面向该半导体元件;以及密封构件,其构造为密封该半导体元件的边缘部分和该透明构件的边缘表面;其中,该透明构件中形成有凹槽形成部,所述凹槽形成部位于该透明构件的边缘表面侧,该边缘表面侧位于该半导体元件的该成像区的外缘的外部。
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