[发明专利]像素驱动电流测量方法以及装置无效
| 申请号： | 200610127803.9 | 申请日： | 2006-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN1936603A | 公开（公告）日： | 2007-03-28 |
| 发明（设计）人： | 三宅泰弘 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明可提供一种能够排除由于控制电压的变化而产生的偏移电流的影响、从而能够高精度地测量像素驱动电流的测量方法及装置。可以通过以具有以下步骤为特征的像素驱动电流测量方法等来解决上述问题：第一步骤，测量当将多个像素全部设定为不发光状态时流向布线的偏移电流；第二步骤，根据当仅使多个像素中的预定的像素点亮时流向布线的电流与偏移电流的差来测量预定的像素的像素驱动电流；第三步骤，重复第二步骤来顺次测量多个像素中的预定数量的像素的像素驱动电流，然后将多个像素全部重置为不发光状态；以及第四步骤，重复第一步骤至第三步骤来测量显示装置的像素驱动电流。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 驱动 电流 测量方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量显示装置的像素驱动电流的测量方法，其中所述显示装置具有用于向多个像素供应驱动电流的布线，所述测量方法包括：第一步骤，测量在所述多个像素都被设置为不发光状态时流向所述布线的偏移电流；第二步骤，根据当只有所述多个像素中的一个预定像素发光时流向所述布线的电流和所述偏移电流之间的差值，测量一个预定像素的所述像素驱动电流；第三步骤，重复所述第二步骤，依次测量所述多个像素中的预定数量的像素的所述像素驱动电流，然后将所述多个像素全部重置为不发光状态；以及第四步骤，重复从所述第一步骤到所述第三步骤，测量所述显示装置的所述像素驱动电流。
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