[发明专利]通过适于光掩膜制造的碳硬掩膜等离子体蚀刻铬层的方法无效
申请号: | 200610127883.8 | 申请日: | 2006-09-27 |
公开(公告)号: | CN1940717A | 公开(公告)日: | 2007-04-04 |
发明(设计)人: | 阿杰伊·库马尔 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08;G03F1/00;G03F7/00 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 赵飞 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供了一种使用碳硬掩膜蚀刻铬并形成光掩膜的方法。在一个实施例中,蚀刻铬层的方法包括在处理室中设置衬底,所述衬底具有通过图案化的碳硬掩膜层暴露的铬层;提供含氯处理气体和一氧化碳至所述蚀刻室中;以及,保持所述处理气体的等离子体并通过所述碳硬掩膜层蚀刻所述铬层。通过图案化的碳硬掩膜层来蚀刻铬层的方法对于制造光掩膜来说是有用的。 | ||
搜索关键词: | 通过 适于 光掩膜 制造 碳硬掩膜 等离子体 蚀刻 方法 | ||
【主权项】:
1.一种蚀刻铬层的方法,包括:在处理室中设置衬底,所述衬底具有通过图案化的碳硬掩膜而部分暴露的铬层;提供含氯处理气体和一氧化碳至所述处理室中;保持由所述处理气体形成的等离子体;并且通过所述碳硬掩膜层蚀刻所述铬层。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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