[发明专利]一种用于研究氧化铝颗粒剖面结构的制样方法无效
| 申请号： | 200610127937.0 | 申请日： | 2006-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN1912568A | 公开（公告）日： | 2007-02-14 |
| 发明（设计）人： | 赵春芳;李建平;路霞;龙志华;颜恒维;仓向辉 | 申请（专利权）人： | 中国铝业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N13/10 |
| 代理公司： | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人： | 李迎春 |
| 地址： | 100814北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于研究氧化铝颗粒剖面结构的制样方法，涉及一种用于固体样品表面微观结构及成分研究的扫描电镜的试样制备方法，特别适用于300°下不发生热变化的氧化铝颗粒剖面样品的制备。制样的制备过程是将氧化铝颗粒撒入熔化的锡中，使颗粒均匀地包埋在熔化的锡中，待其冷却凝固后，进行磨、抛至颗粒剖面，供扫描电镜研究氧化铝颗粒剖面结构的研究。本发明的方法不需要专业设备，工艺简单，成本低廉，操作流程短，在进行磨、抛时不破坏样品的内部结构，不需要配置电解液，不进行电镀，无有害气体逸出，环保等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 研究 氧化铝 颗粒 剖面 结构 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于扫描电镜研究氧化铝颗粒剖面结构的制样方法，其特征在于制样的制备过程是将氧化铝颗粒撒入熔化的锡中，使颗粒均匀地包埋在熔化的锡中，待其冷却凝固后，进行磨、抛至颗粒剖面，供扫描电镜研究氧化铝颗粒剖面结构的研究。
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