[发明专利]PCB检测中错误报警的减少有效
| 申请号： | 200610131826.7 | 申请日： | 2000-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN1955717A | 公开（公告）日： | 2007-05-02 |
| 发明（设计）人： | 达恩·沙洛姆;尼西姆·萨瓦雷戈;努尔·阿拉德 | 申请（专利权）人： | 奥博泰克有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00;G06K9/03;G01R31/308 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 韩宏 |
| 地址： | 以色列*** | 国省代码： | 以色列;IL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种对电路(12)进行自动光学检测的方法，包括：获得电路(12)的至少一个光学图像；根据该至少一个图像产生至少一个第一检测图像，并从其中确定候选缺陷(236)的区域；对围绕候选缺陷(236)的区域产生至少一个附加的检测图像，所述至少一个附加的检测图像至少部分地包含所述至少一个第一检测图像中所不包括的光学信息；并通过检测所述至少一个附加的检测图像，确定是否候选缺陷(236)是一个似是而非的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | pcb 检测 错误 报警 减少 | ||
【主权项】：
1.一种对电路进行自动光学检测的方法，包括：获得电路的至少一个非二进制光学图像；根据该至少一个非二进制光学图像产生至少一个二进制第一检测图像，并处理所述二进制第一检测图像以从其中确定所述电路中的候选缺陷的区域；对围绕候选缺陷的区域产生至少一个附加的检测图像，所述至少一个附加的检测图像至少部分地包含所述至少一个二进制第一检测图像中所不包括的光学特征的信息；及通过检测所述至少一个附加的检测图像，确定所述候选缺陷是否是似是而非缺陷。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥博泰克有限公司，未经奥博泰克有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610131826.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
