[发明专利]微波相位移测量方法和自动装置无效

专利信息
申请号: 200610134124.4 申请日: 2006-11-02
公开(公告)号: CN1971294A 公开(公告)日: 2007-05-30
发明(设计)人: 张述杰;高建平;张芝贤 申请(专利权)人: 沈阳航空工业学院
主分类号: G01R27/28 分类号: G01R27/28;G01R27/32
代理公司: 沈阳维特专利商标事务所 代理人: 甄玉荃
地址: 110136辽宁省沈阳市新城子区道*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及无线电测量技术,特别涉及微波相位移测量方法与自动装置。现有的电桥测量装置由于存在着失配误差,为了减小失配误差,往往需要在电桥测量装置的两个微波信号通道中插入若干个只能由人工来操作的调配器。当微波元件自身反射较大的时候,调配是很难实现的,所以其测量精度较低。在本发明提供的微波相位移测量方法与自动测量装置中,无需插入调配器,而是利用辅助相移器来改变反射系数的符号,采用四次平均测量法来消除失配误差。另外,用转角电机驱动辅助相移器,用步进电机驱动标准相移器,并由计算机硬件电路和软件程序控制其测量过程、数据计算和文本打印,实现了自动化测量。本发明提供的微波相位移自动装置是一种较精密的相位移测量装置,在生产与科研领域具有推广应用价值。
搜索关键词: 微波 相位 测量方法 自动装置
【主权项】:
1、微波相位移测量方法,其特征在于:该方法采用的四次平均测量法是利用测量通道中2个辅助相移器,改变测量通道中反射系数的符号,利用参考通道中2个辅助相移器,改变参考通道中反射系数的符号,在两个通道中,变换过程是同步进行的,这样共有四种变换状态,每变换一次进行一次比较测量,共可得四个测量结果,取其算术平均值,即可以消除失配误差。
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