[发明专利]测试数据报告和分析方法及系统无效
| 申请号： | 200610135776.X | 申请日： | 2006-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN1953102A | 公开（公告）日： | 2007-04-25 |
| 发明（设计）人： | W·J·弗朗特;S·吴;J·卡斯尔斯 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 于静;李峥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了使用数据阵列从阵列结构的多个测试来报告和/或分析测试数据。一种方法包括获取所述测试数据并在数据阵列中报告所述测试数据，所述数据阵列包括至少两个表示不同测试的部分。根据转换表来组织存储在所述数据阵列中的数据，所述转换表描述了所述数据阵列中要测试的数据的位置和要分析的数据的准则。还可以生成大量其他数据布置，例如，列出预定最大数量的失效点的坐标文件或芯片做出的包括失效点的芯片报告。所述数据阵列以更易于生成和存储的形式报告所有测试数据，并且其可以被转换成图像。本发明还公开了用于使用所述数据阵列来分析数据的数据分析方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测试数据 报告 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种根据阵列结构的多个测试来报告测试数据的方法，所述方法包括以下步骤：获取所述测试数据；以及在数据阵列中报告所述测试数据，所述数据阵列包括至少两个代表不同测试的部分。
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