[发明专利]一种基因芯片的TSA－纳米金标记银染检测法无效
| 申请号： | 200610135832.X | 申请日： | 2006-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN101162201A | 公开（公告）日： | 2008-04-16 |
| 发明（设计）人： | 王升启;戚红卷;陈苏红;金大智 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军军事医学科学院放射与辐射医学研究所 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77;C12Q1/68 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100850*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及的是一种基因芯片检测方法，特别是一种大幅度提高基因芯片的金标银染检测灵敏度的可视化检测方法。该检测法主要包括以下步骤：将待检测样品的基因标记生物素分子用于与基因芯片杂交。杂交后的芯片首先TSA处理，通过酶的催化作用使大量的酪氨沉积在反应位点周围；再加入链酶亲和素标记的纳米金，将纳米级的金颗粒连接到靶标分子上；使用银染试剂对杂交后的基因芯片进行显色；观察分析信号。本发明提供的方法是在单步金标银染检测的基础上增加一步TSA过程，TSA使用的Biotin－Tyxamine试剂制备方法简单、免除纯化、性能稳定、易于保存。本方法与单步金标银染检测法相比，基因芯片的检测灵敏度可以提高10－100倍。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基因芯片 tsa 纳米 标记 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基因芯片的检测方法，其特征在于包括TSA过程。
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