[发明专利]光学信息检验设备无效
| 申请号： | 200610136526.8 | 申请日： | 2006-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN1955976A | 公开（公告）日： | 2007-05-02 |
| 发明（设计）人： | 田野敦 | 申请（专利权）人： | 电装波动株式会社 |
| 主分类号： | G06K7/10 | 分类号： | G06K7/10;G06K5/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 钟胜光 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 光学信息检验设备包括：图像拾取部件，拾取记录在显示媒介上的光学信息的图像；测量部件，根据给定的评价项目来测量由图像拾取部件拾取的光学信息的记录状态并输出记录状态的测量值；比较部件，把从测量部件输出的测量值与给定的参考值进行比较并输出比较结果；以及，改善策略输出部件，把从比较部件输出的比较结果转换为与该比较结果相关的改善策略并输出该改善策略。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 信息 检验 设备 | ||
【主权项】：
1、一种光学信息检验设备，包括：图像拾取部件，用于拾取记录在显示媒介上的光学信息的图像；测量部件，用于根据给定的评价项目来测量由所述图像拾取部件拾取的所述光学信息的记录状态并输出所述记录状态的测量值；比较部件，用于把从所述测量部件输出的所述测量值与给定的参考值进行比较并输出比较结果；以及改善策略输出部件，用于把从所述比较部件输出的所述比较结果转换为与所述比较结果相关的改善策略并输出所述改善策略。
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