[发明专利]采用两个氧化物层的非易失性存储器件有效
申请号: | 200610137442.6 | 申请日: | 2006-10-25 |
公开(公告)号: | CN101030623A | 公开(公告)日: | 2007-09-05 |
发明(设计)人: | 斯蒂法诺维奇·詹瑞克;赵重来;柳寅儆;李殷洪;赵成逸;文昌郁 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;H01L27/24;H01L27/10;H01L27/115;G11C13/00;G11C11/56;G11C16/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种采用两个氧化物层的非易失性存储器件。所述非易失性存储器件包括可变电阻材料,还包括:下部电极;形成于所述下部电极上的,由氧化状态可以改变的氧化物形成的第一氧化物层;形成于所述第一氧化物层上的第二氧化物层;以及形成于所述第二氧化物层上的上部电极。 | ||
搜索关键词: | 采用 两个 氧化物 非易失性存储器 | ||
【主权项】:
1.一种采用两个氧化物层并包括可变电阻材料的非易失性存储器件,包括:下部电极;形成于所述下部电极上的,由氧化状态可以改变的氧化物形成的第一氧化物层;形成于所述第一氧化物层上的第二氧化物层;以及形成于所述第二氧化物层上的上部电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610137442.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学膜及其制备方法
- 下一篇:用于描述存储内容和用于描述存储内容的传输的方法