[发明专利]芯片测试系统和芯片测试方法无效
| 申请号： | 200610139145.5 | 申请日： | 2006-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN1928576A | 公开（公告）日： | 2007-03-14 |
| 发明（设计）人： | 黄鑫;游明琦 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G06F11/267 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王一斌;王琦 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试系统，包括：主机和信号仿真单元，其中，所述主机，向信号仿真单元输出测试信号；接收信号仿真单元输出的响应信号；将响应信号与预先设置的参考信号进行比较，得到测试结果；所述信号仿真单元，根据预先设定的映射关系，将主机输出的测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的测试信号，并输出给外部测试芯片；接收来自外部测试芯片的响应信号，并输出给所述主机。本发明还公开了一种芯片测试方法。本发明根据预先设定的映射关系，将测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的信号，模拟目标测试主机与待测芯片进行信息交互，在实现了芯片测试的同时，提高了芯片测试系统的通用性和测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种芯片测试系统，其特征在于，包括：主机和信号仿真单元，其中，所述主机，向信号仿真单元输出测试信号；接收信号仿真单元输出的响应信号；将响应信号与预先设置的参考信号进行比较，得到测试结果；所述信号仿真单元，根据预先设定的映射关系，将主机输出的测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的测试信号，并输出给外部测试芯片；接收来自外部测试芯片的响应信号，并输出给所述主机。
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