[发明专利]电子元件的检验维护系统以及方法无效

专利信息
申请号: 200610139204.9 申请日: 2006-09-15
公开(公告)号: CN101145216A 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 梁惠贞 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06Q10/00 分类号: G06Q10/00;G06Q50/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种电子元件(component)的检验维护系统以及方法,是搭载于资源管理系统,且该资源管理系统中是储存有包括电子元件标识数据及其有效性判断数据,以及针对有效性判断数据为否定结果的无效电子元件的替代元件数据等电子元件管理数据,其通过撷取线路设计文件数据中所包含的电子元件识别数据,以自该电子元件管理数据中查询对应的电子元件的有效性判断数据,来检验该电子元件是否有效,并针对检验结果为无效电子元件,自该电子元件管理数据中提取出相对应的替代元件数据以执行修正维护操作,并同时输出显示上述信息以供线路设计人员参考,而提高线路设计操作的工作效率,也利于管理执行电子元件的资源维护操作。
搜索关键词: 电子元件 检验 维护 系统 以及 方法
【主权项】:
1.一种电子元件的检验维护系统,是搭载于具有电子元件管理数据的资源管理系统,且该电子元件管理数据至少包括电子元件的标识数据及其有效性判断数据,以及针对有效性判断数据为否定结果的无效电子元件的替代元件数据,该电子元件的检验维护系统包括:输入模块,用以提供输入线路设计文件数据;撷取模块,用以由该输入模块所输入的线路设计文件数据中撷取该文件数据中所包含的电子元件的识别数据;以及处理模块,用以读取该撷取模块所撷取的电子元件识别数据,以自该资源管理系统的电子元件管理数据中查询对应电子元件的有效性判断数据,并依据查询结果提取该无效电子元件的替代元件数据进行输出显示。
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