[发明专利]高压开关监控系统无效
申请号: | 200610140319.X | 申请日: | 2006-11-27 |
公开(公告)号: | CN1976147A | 公开(公告)日: | 2007-06-06 |
发明(设计)人: | 马雷克·哈格尔;帕特里克·费尔曼 | 申请(专利权)人: | ABB技术有限公司 |
主分类号: | H02B13/065 | 分类号: | H02B13/065 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 杨生平;杨红梅 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 本发明涉及一种利用新颖的动态电阻测量(DRM)来测量电开关器件(1)中的接触磨蚀的方法和装置。根据本发明,为了确定开关器件(1)中的重叠时间(ΔT)和接触磨蚀,通过测量出通过开关器件(1)和并联导体(12)的测量电流(I0),以及并联导体(12)中的电流改变(ΔI1),间接测量出开关器件(1)两端的电流变化ΔI2。其它示例性实施例涉及以下内容:利用Rogowski线圈(8a)检测并联导体(12)中的差分电流测量信号(ΔI1(t),dI1(t)/dt);选择开关电阻(R2)的数量级的并联导体电阻(R1)。优点包括:即使在数A的较低测量电流I0,开关电阻(R2)的μΩ范围内的小改变(ΔR2)也导致数百mA范围内的大电流改变。结果,可以提供手持便携式DRM测量设备。 | ||
搜索关键词: | 高压 开关 监控 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于测量电开关器件(1)中的接触磨蚀的方法,所述电开关器件包括具有额定电流接触系统(3)的额定电流路径(2)和具有自耗接触系统(5)的自耗接触电流路径(4),从所述额定电流接触(3)和所述自耗接触(5)被分离时的电阻改变测量出所述额定电流接触(3)的分离和所述自耗接触(3)的分离之间的重叠时间(ΔT),并且从其确定出所述自耗接触(5)的磨蚀,所述方法的特征在于:a)从来自测量电流源(11)的馈送电流(I0)分流出第一电流(I2)和第二电流(I1),b)所述第一电流(I2)传送过所述开关器件(1),并且所述第二电流(I1)与所述开关器件(1)并联地传送,以及c)利用测量系统(7)检测出所述第二电流(I1),从作为时间(t)的函数的所述第二电流(I1)的改变确定出所述重叠时间(ΔT)。
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