[发明专利]用于测量电子产品的治具及方法无效
| 申请号： | 200610141072.3 | 申请日： | 2006-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN101153789A | 公开（公告）日： | 2008-04-02 |
| 发明（设计）人： | 郑益骐;刘昆华;许庭彰;苏振平 | 申请（专利权）人： | 华泰电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B3/00 | 分类号： | G01B3/00;G01B5/02 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 中国台湾高雄*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用以测量多个电子产品的测量治具界定出第一及第二测量开槽，该第一测量开槽具有至少一第一比对尺寸，该比对尺寸为该电子产品的尺寸规格上限值，以供电子产品以一置放方向置入，与该第一比对尺寸进行比对判测，且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半，以及该第二测量开槽具有至少一第二比对尺寸，该比对尺寸为该电子产品的尺寸规格下限值，以供电子产品与该第二比对尺寸进行比对判测，且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 电子产品 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量治具，用于测量多个电子产品，该测量治具包括：一第一本体；以及一第二本体，固定于该第一本体上，其特征在于：该第二本体与该第一本体间界定出一第一测量开槽及一第二测量开槽，其中该第一测量开槽具有至少一第一比对尺寸，该第一比对尺寸为该电子产品的尺寸规格上限值，以供电子产品以一置放方向置入，与该第一比对尺寸进行比对判测，且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半，以及该第二测量开槽具有至少一第二比对尺寸，该第二比对尺寸为该电子产品的尺寸规格下限值，以供电子产品与该第二比对尺寸进行比对判测，且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半。
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