[发明专利]半导体器件有效
| 申请号： | 200610142094.1 | 申请日： | 2002-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN1929033A | 公开（公告）日： | 2007-03-14 |
| 发明（设计）人： | 山崎雅文;铃木孝章;中村俊和;江渡聪;三代俊哉;佐藤绫子;米田隆之;川村典子 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/36 | 分类号： | G11C29/36 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 逻辑芯片和被此逻辑芯片存取的存储芯片安装在同一封装中。在第一测试方式下逻辑芯片的模式发生器运行以便为存储芯片产生内部测试模式。模式选择器在第一测试方式下选择从模式发生器输出的内部测试模式，在第二测试方式下选择通过测试终端提供的外部测试模式，并把所选择的测试模式输出到存储芯片。根据方式选择信号，使用在逻辑芯片中产生的内部测试模式(第一测试模式)或者从外部提供的外部测试模式(第二测试模式)，安装在封装中的存储芯片得到测试。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括安装在单一的封装中的逻辑芯片和被所述逻辑芯片存取的存储芯片，所述逻辑芯片包括：方式选择终端，用来接收由半导体器件的外部供应的方式选择信号，它选择第一和第二测试方式中的一个用于测试所述存储芯片；模式发生器，用来在所述第一测试方式期间操作从而为所述存储芯片产生内部测试模式；测试结果终端，用来向半导体器件的外部输出根据所述内部测试模式执行的测试的结果；第一多功能终端，在所述第二测试方式期间起测试终端的作用而在正常操作期间起正常终端的作用；所述第一多功能终端连接到半导体器件的外部；以及模式选择器，用来在所述第一测试方式期间选择从所述模式发生器输出的所述内部测试模式，在所述第二测试方式期间选择通过所述测试终端提供的外部测试模式，并把所选择的测试模式输出到所述存储芯片中。
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