[发明专利]高分辨率时间间隔测量设备和方法有效
申请号: | 200610143765.6 | 申请日: | 2006-06-22 |
公开(公告)号: | CN1940777A | 公开(公告)日: | 2007-04-04 |
发明(设计)人: | 杰克·帕蒂 | 申请(专利权)人: | 阿米特克公司 |
主分类号: | G04F10/04 | 分类号: | G04F10/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王萍 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种对两个测量信号之间的完整时钟时间周期的总数计数的时间间隔测量设备和方法。在两个测量信号中的每一个和完整时钟时间周期的下一个上跳沿之间产生时钟片段时间周期。将完整时钟时间周期的总数和时钟片段时间周期转换成时间当量测量值,并且将它们结合以便产生在该两个测量信号之间的总时间间隔。 | ||
搜索关键词: | 高分辨率 时间 间隔 测量 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种时间间隔测量设备,包括:用于对完整时钟时间周期的总数计数的装置,每个所述完整时钟时间周期在初始测量信号和随后的测量信号之间具有设置的时钟周期;用于产生时钟片段时间周期的装置,所述时钟片段时间周期从初始测量信号和下一个时钟时间周期的起点、随后的测量信号、以及下一个相应的时钟时间周期的起点开始;以及用于将产生的时钟片段周期和时钟时间周期的总数结合以便产生在初始和随后的测量信号之间的总时间间隔的装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿米特克公司,未经阿米特克公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610143765.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。