[发明专利]核医学诊断装置及核医学诊断方法无效
| 申请号： | 200610146550.X | 申请日： | 2006-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN1965758A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 清野知之;横井一磨;高桥勋;上野雄一郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01T1/24;G01T3/08 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 熊志诚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能量分辨率优越的核医学诊断装置及核医学诊断方法。核医学诊断装置，具有通过由导电性粒子及树脂粘合剂构成的导电性粘接剂(21A)粘接半导体元件(S)和金属制的导电部件(22、23)的粘接结构，还具备将放射线入射到上述半导体元件(S)时所产生的电荷从上述导电部件(22、23)经上述导电性粘接剂(21A)通过检测电路(30)作为信号导出的结构，其特征在于，设有：用于使至少流过上述导电性粘接剂(21A)的电流比入射了放射线时所产生的电荷形成的电流大的通电机构(40)；以及保护上述检测电路(30)不受由该通电机构(40)流过的电流的影响的保护电路(31)。 | ||
| 搜索关键词： | 核医学 诊断 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种核医学诊断装置，具有通过由导电性粒子及树脂粘合剂构成的导电性粘接剂粘接半导体元件和金属制的导电部件的粘接结构，还具备将放射线入射到上述半导体元件时所产生的电荷从上述导电部件经上述导电性粘接剂通过检测电路作为信号导出的结构，其特征在于，具备：用于使至少流过上述导电性粘接剂的电流比入射了放射线时所产生的电荷形成的电流大的通电机构；以及保护上述检测电路不受由该通电机构流过的电流的影响的保护电路。
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