[发明专利]一种可靠预测碲镉汞光电响应截止波长的非接触实验方法无效
| 申请号： | 200610148066.0 | 申请日： | 2006-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN1995974A | 公开（公告）日： | 2007-07-11 |
| 发明（设计）人： | 邵军;吕翔;陆卫;吴俊;越方禹;黄炜;李宁;何力;褚君浩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01J3/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 田申荣 |
| 地址： | 200083*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种可靠预测HgCdTe光电响应截止波长的非接触实验方法，系综合运用透射、光电流、光调制反射和光致发光多种光谱表征手段，对77K温度下材料的截止能量进行研究。结果表明：由于缺陷/杂质能级的存在，使传统的透射光谱不能准确预测材料的光电响应截止波长；而根据经验公式估算的材料截止波长则通常偏短。红外光调制反射光谱是非接触性检测方法，又因为它与光电流谱的三阶导数谱相似，可以作为一种可靠预测材料光电响应截止波长的非接触检测手段。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可靠 预测 碲镉汞 光电 响应 截止 波长 接触 实验 方法 | ||
【主权项】：
1、一种可靠预测HgCdTe光电响应截止波长的非接触实验方法，其特征在于：结合基于傅立叶红外变换光谱仪的光电流、透射、光调制反射和光致发光多种光谱表征，对77K温度下砷掺杂的窄禁带Hg1-xCdxTe材料的系统研究。
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