[发明专利]集成电路测试器无效
| 申请号： | 200610148620.5 | 申请日： | 2006-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN1967277A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 永沼英树 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/00;G09G3/00;G09G3/36;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明披露了一种集成电路测试器，用于不须采测试程序以设定偏移电压，即可供应适当的偏移电压，而能够抑制超过范围的情形。本发明是对于将受测试对象的输出减去偏移电压以进行测定的集成电路测试器加以改良。本装置的特征为具备电压测定单元，以测定受测试对象的输出；以及电压产生单元，以根据该电压测定单元的测定结果而产生偏移电压。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试器，将受测试对象的输出减去偏移电压，以进行测定；其特征为包括：电压测定单元，用以测定该受测试对象的输出；以及电压产生单元，用以依据该电压测定单元的测定结果，产生该偏移电压。
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